FA失效分析检测设备

咨询热线

131-2706-6628
12寸探针台

浏览次数:399

手机号:131-2706-6628

公司地址:山东省青岛市李沧区京口路100号

全国热线

131-2706-6628

产品详情

Failure analysis 集成电路失效分析

Wafer level reliability 晶元可靠性认证

Device characterization 

元器件特性量测

Process modeling

塑性过程测试(材料特性分析)

IC Process monitoring 制成监控

Package part probing 

IC封装阶段打线品质测试

ESD&TDR testing ESD和TDR测试

Microwave probing 微波量测(高频)

Solar太阳能领域检测分析

LED、OLED、LCD领域检测分析

QDYZ-1200 probe station

性能指标

备注

可测圆片尺寸

4,6 ,8 ,12inch


CHUCK

行程

X/Y:305×305mm(Air-bearing stage 技术)含锁死装置


分辨率

m


控制

进口导轨


平面度

≤5μm

背面需要加电极(可选)

晶圆固定方式

真空吸附,分档控制

Chuck Z轴(可选)

行程

10mm


分辨率

1μm


Chuck θ轴(可选)

微调范围

±5 º (分辨率为0.1°)


Platen 平台

材料

非抛光型不锈钢+特种铝合金制


快速升降

10mm ,上下微调行程:30-50mm 精度1um


容量

6-8个DC针座或者4个RF针座


Chuck θ轴(可选)

配置

体式显微镜

1.目镜:20X 2.变倍范围:0.75X-5X 3.总放大倍数:15x-100x 4.LED 光源照明

金相显微镜

1.目镜:20x 2.Zoom:1-2x 3.物镜:2x,10x,20x,50x

4.总放大倍数:20x-1000x 5.光纤光源系统

根据客户测试

参数要求而定

Platen 平台

行程

X/Y:2 inch x 2inch (分辨率:1um) Z: 2inch


显微镜

气动升降

显微镜气动升降便于更换物镜


屏蔽罩(可选)

L1350*W900*H1300mm


防震桌(可选)

W*D*H:1100*800*900mm